PHOTON RT

ООО «Оптикс-М» запустило в эксплуатацию новый спектрофотометр PHOTON RT для проведения удобных, быстрых и достоверных измерений оптических деталей и оптических характеристик тонкопленочных покрытий  от 200 до 4200 нм. Оригинальная конструкция прибора обеспечивает измерение сразу без каких-либо приставок характеристик пропускания и отражения, включая измерение под углами до 60° с шагом 0,1° в поляризованном свете. Оригинальная оптическая схема прибора с опорным каналом позволяет проводить измерения под различными углами, вычислять оптическую плотность в диапазоне 0-4 (D), при этом минимальный размер детали 12х10мм, максимальный – диаметром до 120 мм, позволяя быстро размещать оптические детали на предметном столике. 

Возможности спектрофотометра PHOTON RT:

  • Измерение пропускания T, Ts, Tp (для углов 0-60°), расчет T(s+p)/2, для заданного угла падения света
  • Измерение отражения R, Rs, Rp (для углов 8–60°), расчет R(s+p)/2, для заданного угла падения света
  • Измерение индикатрисы рассеяния отражения и пропускания
  • Расчет интегральных характеристик R и Т в заданном спектральном интервале
  • Расчет координат цветности
  • Вычисление оптической плотности образца в диапазоне 0 – 4 (D)
  • Кинетические измерения
  • Измерения в максимальном диапазоне 200-4000 нм

ООО «Оптикс-М» также контролирует пропускание материалов для различных оптических изделий (окна, пластины, линзы, плоские и сферические зеркала, призмы), используя спектрофотометр СФ-56 и ИК-Фурье спектрометр Varian.

Применение всех типов спектрофотометров дает возможность нам эффективно выполнять заказы во всех спектральных диапазонах  и контролировать спектральные характеристики оптических покрытий  с учетом практически любых требований заказчика.

Предлагаем вам услуги регистрации пропускания полированных образцов (окон, пластин) из различных материалов на наших спектральных приборах: спектрофотометр СФ-56 в диапазоне (190-1100) нм и ИК-Фурьеспектрометр Varian в диапазоне (2.5-25.0) мкм. По желанию заказчика возможно изготовление полированных образцов материалов, требуемых для измерения спектрального коэффициента пропускания. Кроме того, возможно измерение коэффициента отражения зеркал в спектральном диапазоне (2.5 - 25.0) мкм под заданным углом падения излучения на зеркало.

Предлагаем вам проверку пропускания в спектральных диапазонах от 190 нм до 25 мкм образцов следующих оптических материалов: стекло К8, цветное стекло, кварцевое стекло (кварц КУ 1, кварц КИ, кварц КВ), кристаллы (сапфир Al2O3, кремний Si, германий Ge, селенид цинка ZnSe, CaF2 (фтористый кальций, флюорит), BaF2 (фтористый барий), MgF2 (фтористый магний), LiF (фтористый литий) и другие, в том числе материалы заказчика.